Spéctromètre d'épaisseur de revêtement par fluorescence à rayons X à haute stabilité HXRF-450S

The HXRF-450S XRF X-ray Fluorescence Coating Painting Thickness Tester is a high-performance instrument designed for precise coating thickness measurement and material analysis across various industries.

• Température de fonctionnement: 15 à 30°C
• Humidité relative: 40% à 50%
• Énergie électrique: CA: 220V ± 5V

• Excellente stabilité à long terme avec des exigences minimales d'étalonnage
• Aucune préparation de l'échantillon n'est nécessaire pour les systèmes de revêtement, les échantillons solides ou liquides
• Performance complète comprenant l'analyse du revêtement, l'analyse qualitative/quantitative, l'analyse du bain et les fonctions statistiques

Idéal pour les composants électroniques, les semi-conducteurs, les PCB, les FPC, les supports LED, les pièces automobiles, les revêtements fonctionnels, les pièces décoratives, les connecteurs, les terminaux, les articles sanitaires,bijoux et autres industries pour la mesure de l'épaisseur du revêtement de surface et l'analyse des matériaux.

• Interface utilisateur simple avec autorisation limitée de l'opérateur
• Capacités de maintenance du superviseur
• Enregistrements d'utilisation automatiques de l'opérateur
• Blocage automatique pour empêcher une utilisation non autorisée
• Capteur de porte de la chambre d'échantillonnage
• Feu d'avertissement à rayons X
• Buttons de sécurité du panneau avant

• Mesures jusqu'à 5 couches (4 couches + substrat) simultanément
• Analyse 15 éléments avec correction automatique des lignes spectrales
• Haute précision de mesure (jusqu'à μin) avec une excellente stabilité
• Mesure rapide et non destructive (jusqu'à 10 s)
• Analyse des solides et des solutions avec des capacités qualitatives, semi-quantitatives et quantitatives
• Identification et détection de la classification des matières
• Statistiques détaillées des données (moyenne, écart type, etc.)
• Options de sortie multiples (impression, PDF, Excel) avec des rapports complets
• Vue d'avance de la position de mesure avec grossissement optique 30x
• Service mondial et soutien technique

• Détecteur de semi-conducteurs SDD refroidi électriquement
• Résolution: 129 ± 5 EV
• Module de circuit d'amplification pour la détection par rayons X des caractéristiques de l'échantillon

• Le courant de sortie maximal du filament: 1mA
• Composant à demi-perte, 50 W, refroidissement à air

• Voltage de sortie maximal: 50 kV
• Réglage contrôlable minimum de 5 kV
• Protection contre les surcharges de tension autonome